6月1日下午，集成电路研究所成功举办第二期“红芯领航”学术报告。本次报告特邀美国卡耐基梅隆大学陈彦冰博士，以基于SPAD成像器的可重构硬件安全原语研究为题，带来前沿学术分享。

陈彦冰围绕周界栅控SPAD成像器，系统介绍了可重构硬件安全原语、器件设计与实现方案，详细阐述了数字指纹生成、熵源提取等核心技术；并现场演示介绍了微型光刻机在微纳器件制备、芯片原型验证中的关键作用，解析其在实验室研发、小批量芯片加工中的应用优势。

随后，参会师生围绕硬件安全原语实现、SPAD器件优化、微纳加工设备选型、科研合作路径等问题踊跃提问，陈彦冰逐一细致解答。

此次学术报告拓宽了师生学术视野，加强了研究所与国际顶尖高校的学术交流。未来，集成电路研究所将持续举办高水平学术活动，助力科研创新与人才培养，推动集成电路与硬件安全领域研究不断取得新突破。